从历史上看  ，随着如电视、机顶盒和个人电脑等消费类电子产品中接口芯片带宽的提高  ，这些接口芯片诸如Serial ATA(SATA)、光纤通路、高级内存缓冲器(AMB)以及PCI Express  ，其测试成本相应会呈指数式增加 。 加之芯片制造商面临的消费类产品的价格压力  ，情况变得更加复杂 。 安捷伦推出的内建式自测试(BIST)Assist卡  ，作为93000系列SOC测试系统的扩展  ，打破了生产过程中高速链路芯片测试成本不断攀升的趋势 。 在高速、量产UED登录入口中  ，与传统全速生产测试方案相比  ，采用该卡可明显降低测试成本 。

BIST Assist卡的功能包括可调节的精确的抖动注入、直流DC接入能力和全速条件下的电平控制功能 。 其提供的无可比拟的性能分析能力  ，使用户可在无需降低质量标准的情况下实现生产测试 。 此外  ，这些功能在BIST或环回模式下  ，可灵活、全面地满足各种应用的测试需求  ，这些应用包括图像处理、芯片组、交换机和SerDes设备等  ，具体芯片例如SATA、AMB、PCI Express  ，以及光纤通道  ，这些芯片要求以最低的成本  ，进行高故障覆盖率、高数据率的生产测试 。

“BIST卡使UED登录入口能够在同一测试平台上进行量产测试和高速接口芯片的测试 。 ” IDT串行交换分部的Mike Converse说  ，“Agilent 93000和BIST Assist的结合  ，使IDT具备了以低成本对于高速链路接口芯片进行分析测试和量产测试的能力  ，加快了UED登录入口产品的上市周期 。 ”

“获悉UED登录入口的产品能够帮助IDT继续开发完整的解决方案  ，满足其客户对于产品上市时间的需求  ，UED登录入口深感荣幸 。 ” 安捷伦半导体测试解决方案事业部副总裁兼总经理Tom Newsom说  ，“随着链路产品速度的不断提高  ，安捷伦BIST Assist卡将持续成为IDT的一项安全投资  ，保障在量产制造UED登录入口中提供广泛的故障覆盖率 。 ”

Agilent 93000 SoC系列是可升级的测试系统平台  ，全球装机量已经超过950套 。 此系列的推出  ，是为了满足SOC芯片测试对于测试机性能上的苛刻要求以及价格上的严酷挑战 。 通过配置多种模块  ，该系统可以涵盖极为广泛的应用需求  ，从数据率高达10Gb/s的超高速数字应用  ，到多种多样的混UED登录入口号应用  ，直至RF射频应用 。